摘要
本发明公开了一种基于空腔图形化衬底的Micro‑LED芯片制备方法,包括:1)提供外延片,所述包括衬底和外延层,所述外延层包括AlN缓冲层、n‑GaN层、有源区层、p‑AlGaN电子阻挡层和p‑GaN层;2)在所述p‑GaN层表面沉积一层SiO2保护层;3)利用纳秒脉冲激光对所述外延层进行扫描刻蚀,形成沟槽;4)利用热化学腐蚀对所述沟槽进行腐蚀,在所述衬底与所述AlN缓冲层界面靠近所述沟槽区域形成空腔微结构;5)去除步骤2)中所述SiO2保护层,引入ITO层,并对所述ITO层进行刻蚀以形成图形化ITO层;6)在所述图形化ITO层上沉积一层SiO2钝化层,在所述SiO2钝化层蒸镀p电极和n电极,形成所述Micro‑LED芯片。该方法制备的Micro‑LED芯片的正面光输出功率,提升了芯片的光电性能。
技术关键词
SiO2保护层
GaN层
纳秒脉冲激光
AlN缓冲层
LED芯片
图形化蓝宝石衬底
SiO2钝化层
干法刻蚀技术
电子阻挡层
图形化衬底
沟槽区域
蓝宝石衬底表面
湿法腐蚀技术
微结构
气相沉积技术
外延片
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