电子器件极性检测方法、装置、设备及介质

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电子器件极性检测方法、装置、设备及介质
申请号:CN202411092903
申请日期:2024-08-09
公开号:CN119180779A
公开日期:2024-12-24
类型:发明专利
摘要
本申请涉及到电子器件极性检测技术领域,具体而言,涉及到一种电子器件极性检测方法、装置、设备及介质。其方法包括:构建深度学习模型;将模版图像和待检测器件图像输入深度学习模型,分别得到第一图像特征和第二图像特征;计算所述第一图像特征和第二图像特征的相似度;基于所述相似度计算所述模版图像和待检测器件图像之间的质量匹配分数;基于所述质量匹配分数判断器件极性是否正确。本申请能够实现对SMT/DIP器件极性情况的自动化检查,可有效减少人工成本,并能够提高其泛化性和检测精度。
技术关键词
极性检测方法 检测器件 深度学习模型 电子器件 模版 深度学习特征提取 极性检测设备 极性检测装置 图像特征值 可读存储介质 存储计算机程序 工业相机 处理器 输入模块 超参数 标识符
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