一种半固化片表面数据的采集与处理方法及系统

本发明涉及半固化片数据处理技术领域，特别是一种半固化片表面数据的采集与处理方法及系统。将目标半固化片的表面特征图像转化为数字矩阵，以及将当批次半固化片的标准特征图像转化为数字矩阵；将目标半固化片的目标数字矩阵与当前批次半固化片的标准数字矩阵进行比较分析；若分析结果为第二分析结果，则基于所述目标数字矩阵与标准数字矩阵定位出目标半固化片的缺陷位置区域，并获取所述缺陷位置区域的缺陷区域图像；对所述缺陷区域图像进行识别处理，得到该目标半固化片的缺陷类型信息。本发明不仅能够显著提高生产过程的智能化程度，还能及时发现并处理质量问题，有效提高检测精度与降低生产成本。