芯片表面形态仿真方法、装置及计算机可读存储介质

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芯片表面形态仿真方法、装置及计算机可读存储介质
申请号:CN202411104338
申请日期:2024-08-13
公开号:CN118643677B
公开日期:2025-10-17
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种芯片表面形态仿真方法、装置及计算机可读存储介质,获取待仿真芯片的版图信息;通过物理仿真模型,基于版图信息对待仿真芯片的表面形态进行仿真,得到表面形态仿真结果;通过训练完成的表面形态预测模型,基于版图信息对待仿真芯片的表面形态进行预测,得到表面形态预测结果;根据表面形态仿真结果以及表面形态预测结果,确定待仿真芯片的表面形态数据;通过充分考虑表面形态仿真结果以及表面形态预测结果预测待仿真芯片的表面形态,实现了物理仿真模型以及训练完成的表面形态预测模型的融合,提高了待仿真芯片的表面形态数据预测的准确性。
技术关键词
仿真芯片 形态 版图 仿真模型 网格 仿真工艺 滑动窗口 参数校准 数据 样本 CMP工艺 仿真方法 物理 可读存储介质 种子 切片 仿真装置 训练集 尺寸
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