纺织品表面缺陷检测方法、系统、电子设备及存储介质

本发明公开了纺织品表面缺陷检测方法、系统、电子设备及存储介质，包括：获取纺织品样本图像，根据纺织品样本图像训练得到图像缺陷检测模型；确定图像缺陷检测模型在多个预设环境条件下的模型性能，并根据预设环境条件和模型性能构建训练数据集；根据训练数据集训练随机森林回归模型，并根据随机森林回归模型确定不同环境因素对于模型性能的特征重要性；根据特征重要性调整纺织品表面缺陷检测的环境条件，并获取待检测纺织品的目标纺织品图像，进而通过图像缺陷检测模型对目标纺织品图像进行缺陷检测。本发明提高了纺织品表面缺陷检测的准确性，可应用于机器视觉技术领域。