一种可编程射频收发芯片自动测试系统

本发明属于射频芯片测试领域，具体涉及一种可编程射频收发芯片自动测试系统，旨在解决现有测试系统无法满足实时配置待测芯片并测试的需求及无法保证射频参数测试的准确性和稳定性的问题。本系统包括：控制器、测试仪器均集成于PXI机箱中；软件控制系统运行于控制器中；射频开关的输入输出端口通过射频线缆分别与测试仪器和测试转接板连接；测试转接板分别连接待测芯片、测试仪器、射频开关阵列；数字继电器阵列分布集成在测试转接板上；数字继电器阵列分别与测试仪器中的继电器驱动器、待测芯片连接；芯片控制模块通过LAN接口与控制器进行控制指令收发。本系统可实时配置待测芯片并测试，并提升射频参数测试的准确性和稳定性。