摘要
本发明属于超声无损检测领域,公开了一种面对超声C扫描检测的回波相位误差校正方法及相关装置,方法包括:计算超声C扫描平面内各采样点的回波波形的特征向量;以所有采样点的特征向量为数据集,根据采样点回波波形的形貌对采样点的回波波形进行分类;在超声C扫描平面内生成采集框,使所述采集框同时包含各类回波波形的采样点并选择各类回波波形的校正参考点;计算回波波形在最大位移量范围内与校正参考点的回波波形的最小均方根误差,以所述最小均方根误差对应的位移量作为校正相位误差的最佳位移量。本发明能够通过对超声回波信号的波形进行分类,从而将波形特征相似的波形分别进行位移处理,以达到校正波形相位误差的效果。
技术关键词
相位误差校正方法
波形
校正相位误差
K均值聚类算法
采样点
校正系统
超声回波
处理器
数据
存储装置
模块
电子设备
密度
试件
程序
幅值
系统为您推荐了相关专利信息
采集板卡
FPGA芯片
故障行波
北斗模块
时间寄存器
微流控芯片
超声换能器
超声波装置
函数发生器
富集