一种LED芯片外观智能快速检测系统及方法

本发明公开了一种LED芯片外观智能快速检测系统及方法，涉及芯片检测技术领域，该系统通过光源控制模块通过构建光源组合矩阵L，精确设定光源状态、俯仰角和方位角，实现对LED芯片的多角度照射。图像采集模块利用带有偏振滤镜的工业相机，同步捕捉不同角度的图像，并通过透视校正、畸变校正等预处理，获取高质量的标准图像。在特征提取与融合模块中，系统提取多角度反射指数R(A，B)、局部表面纹理参数T(x，y）和光源偏振角P(A，B）等关键特征，通过综合计算生成融合图像Ifused。这种检测系统能够更加准确地识别芯片表面的细微缺陷，显著提高检测精度和一致性，同时减少人工检测的时间和误差。