一种改进型YOLOv8芯片表面缺陷检测模型及其构建方法和应用

本发明公开了一种改进型YOLOv8芯片表面缺陷检测模型构建方法及应用，通过搭建改进型YOLOv8目标检测模型的网络结构，包括Backbone模块、Neck模块和Head模块；Backbone模块包括多层DCNv3网络、C2f网络和SPPF网络，对图片进行多层卷积处理后输出第一有效特征层、第二有效特征层和第三有效特征层；Neck模块采用BiFPN双向特征金字塔特征融合结构，将Backbone模块输出的3个有效特征层输入Concat_BiFPN网络中进行双向自适应融合，随后分别经CBAM注意力机制网络输出；Head模块包括Detect网络结构，Detect网络结构与CBAM注意力机制网络连接，输出目标检测结果；利用改进型YOLOv8目标检测模型结构对芯片表面缺陷精准识别，提高对不同类型缺陷的适应性。