一种针对强磁脉冲环境下增强芯片可靠性的电源网络优化方法

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一种针对强磁脉冲环境下增强芯片可靠性的电源网络优化方法
申请号:CN202411456015
申请日期:2024-10-18
公开号:CN119378316B
公开日期:2025-10-28
类型:发明专利
摘要
本申请属于芯片电源网络技术领域。本申请提供一种针对强磁脉冲环境下增强芯片可靠性的电源网络优化方法。本公开实施例基于芯片的设计条件,利用EDA工具设计芯片,得到初始电源网络。尽可能的使供初始电源网络自身形成闭合的环路;尽量使得不同金属层的通孔在同一垂直线,将开环结构转化为L型结构;在满足供电需求的情况下,适当的增加冗余的金属线条;通过多折结构减小磁通量积分面积,得到目标电源网络。扩展了提高芯片抗磁干扰能力的范围,考虑了外部磁场对芯片电源网络的影响,针对强磁脉冲环境下的芯片设计,提供了可靠性优化方案。
技术关键词
网络优化方法 EDA工具设计 电源 树状结构 多折结构 芯片 策略 供电线路 强磁 金属线 网络优化装置 脉冲 环状 网络结构 开环结构 线条 处理器 冗余 网络技术
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