一种存储单元性能的测试方法、装置及电子设备

本发明涉及存储器技术领域，公开了一种存储单元性能的测试方法、装置及电子设备，一种存储单元性能的测试方法，包括以下步骤：步骤S101，获取固态硬盘所在硬件设备的硬件参数；步骤S102，生成硬盘性能测试条件；步骤S103，生成硬件评分；步骤S104，分别在顺序读模式和随机读模式下，执行硬盘性能测试条件生成第一性能评分；步骤S105，分别在顺序写模式和随机写模式下，执行硬盘性能测试条件生成第二性能评分；步骤S106，生成固态硬盘的综合评分；本发明根据固态硬盘所在硬件设备的硬件参数生成硬盘性能测试条件和硬件评分，并分别在不同的读写模式下获得性能评分，通过性能评分减去硬件评分来消除因硬件配置的不同而产生的偏差。