基于雷达探测区域的电离层三维电子密度计算方法

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基于雷达探测区域的电离层三维电子密度计算方法
申请号:CN202411480974
申请日期:2024-10-23
公开号:CN119439151A
公开日期:2025-02-14
类型:发明专利
摘要
本发明提出一种基于雷达探测区域的电离层三维电子密度计算方法。技术方案包括:利用ISR,获取ISR探测区域内的被探测点的电子密度参量及地理坐标,统记为ISR观测值。利用IRI2020模型得到被探测点的电子密度参量及地理坐标,统记为IRI经验值。利用IRI2020模型计算ISR探测区域内未被探测点的的IRI经验值,将其输入到训练好的神经网络,得到其ISR观测值,将这些未被探测点记为被探测点。重复进行步骤3至步骤4,直到被探测点的数量满足设定的阈值要求。本发明克服了背景技术中ISR探测空间分辨率不够的缺点,可以实现获取区域内任意空间分辨率的电子密度分布。
技术关键词
计算方法 训练神经网络 分辨率 雷达
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