缺陷检测方法、装置、系统、计算机设备和可读存储介质

本申请涉及一种缺陷检测方法、装置、系统、计算机设备和可读存储介质。方法包括：获取待测物体对应的结构光反射图像，并对结构光反射图像进行目标检测，得到至少一个目标图像区域；对目标图像区域进行掩模图像转化，得到目标区域掩模图像；基于结构光反射图像对应的初始绝对相位数据进行三维重建，得到第一三维重建模型；基于目标区域掩模图像中提取的目标绝对相位数据，对第一三维重建模型进行修正，得到第二三维重建模型；根据第二三维重建模型，对待测物体进行缺陷尺寸测量。采用本方法能够准确进行缺陷尺寸测量。