套管硅橡胶电老化状态评估方法、系统、设备及介质

本发明公开了一种套管硅橡胶电老化状态评估方法、系统、设备及介质。所述评估方法包括以下步骤：构建套管硅橡胶的微观分子模型；在所述微观分子模型上施加外加电场；计算在不同外加电场强度下套管硅橡胶的电学特性参数和红外光谱；基于所述电学特性参数和红外光谱，建立套管硅橡胶微观结构变化与红外光谱关联的评估模型；根据所述评估模型，通过红外光谱的变化趋势预测套管硅橡胶的电老化状态。本发明为套管硅橡胶在电场作用下的宏观性能预测提供了一种基于微观结构变化的评估方法，可对套管硅橡胶的电老化状态进行无损检测与评估，显著降低了实验成本和时间，提升了评估的准确率与便捷性。