一种半导体器件测试优化方法

本发明提出了一种半导体器件测试优化方法，所述方法包括：初始化测试环境，获取半导体的测试数据，自动配置测试环境；构建信号调整模型动态生成初步测试信号；设计传感器网络实时监控半导体器件初步测试信号和响应，动态调整传感器数据，设计数据优化采集策略；将参数分为高优先级和低优先级，对参数进行动态压缩，实施快速傅里叶变换，提取频谱分量作为特征，对特征进行分析；对压缩后的数据进行解压和预处理，进行深度故障分析与定位；优化导体的测试数据，进行二次测试，验证参数调整结果。本发明不仅能够显著提高半导体器件的测试质量和效率，而且还能降低因测试不足而引发的产品失败率，对半导体制造业尤其是高端芯片生产具有重要的作用。