一种空间维推扫色散光谱成像系统及其计算对焦方法

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一种空间维推扫色散光谱成像系统及其计算对焦方法
申请号:CN202411501940
申请日期:2024-10-25
公开号:CN119595104B
公开日期:2025-11-21
类型:发明专利
摘要
本发明涉及空间维推扫色散光谱成像系统的对焦方法,具体涉及一种空间维推扫色散光谱成像系统及其计算对焦方法,解决了现有空间维推扫色散光谱成像系统的对焦方法难以判断对焦后是否处于最佳成像位置的技术问题。本发明基于深度学习与清晰度评价,不需要做空间维推扫运动,仅通过对一维光谱图像的分析即可快速实现最佳像面的精确确定,大幅简化了空间维推扫色散光谱成像系统实际使用过程中的调焦流程,解决了由于反复多次调焦影响测量效率的问题,同时可以准确得到最佳成像位置,提高了光谱图像的质量,对提升光谱成像系统成像数据质量以及成像效能具有重要的意义。
技术关键词
光谱成像系统 成像光学单元 传动组件 优化深度神经网络 峰值搜索方法 训练深度神经网络 计算机 图像增强 直方图均衡化 数据 焦点 参数 采样点 曲线 阶段
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