一种基于交叠铜排导电的低电感SiC半桥功率模块布局

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一种基于交叠铜排导电的低电感SiC半桥功率模块布局
申请号:CN202411515106
申请日期:2024-10-29
公开号:CN119480845A
公开日期:2025-02-18
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种基于交叠铜排导电的低电感SiC半桥功率模块布局结构。该结构下,利用交叠铜排替代传统封装结构中的键合线,铜排上加工凹坑与芯片顶面功率电极相连,铜排折弯与基板覆铜相连,实现电流的导通。基于本发明交叠铜排结构,上、下开关管导通时,下、上层导电铜排上,电流路径之间存在互感相互抑制,模块具有低寄生电感;上、下层铜排两端均与基板间存在固定连接,中间位置均与芯片顶面电极具有固定连接,模块可靠性高;上、下层铜排厚度可调,保证模块通流能力;铜排加工成本较低,且无需垫块、减少了连接界面数量。因此,本发明提出的模块布局结构,在寄生电感、出流能力、成本角度,相比现有布局封装结构具有突出优势,适于推广应用。
技术关键词
导电铜排 功率半导体芯片 开关管 功率模块 NTC热敏电阻 基板 底面电极 模块布局结构 凹坑 低寄生电感 绝缘陶瓷层 封装结构 铜排折弯 电流 铜排结构
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