一种显示面板的缺陷检测方法、装置、系统和介质

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一种显示面板的缺陷检测方法、装置、系统和介质
申请号:CN202411529930
申请日期:2024-10-30
公开号:CN119438234B
公开日期:2025-11-04
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种显示面板的缺陷检测方法、装置、系统和介质,显示面板包括非像素区和多个像素区,非像素区位于相邻的像素区之间,缺陷检测方法包括根据显示面板显示的第一画面得到第一图像;从第一图像中提取多个目标图像单元;目标图像单元与像素区所显示的画面对应,且目标图像单元不包括非像素区所显示的画面;对多个目标图像单元进行拼接,以得到第二图像;根据第二图像对显示面板进行缺陷检测。本发明可以提高检测结果的准确性,减少误判。
技术关键词
缺陷检测方法 像素区 面板 画面 缺陷检测装置 图像提取模块 缺陷检测系统 图像获取模块 处理器 图像拼接 灰阶 图像分割 可读存储介质 程序 存储器 计算机
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