一种低功耗条件下的芯片自检方法、系统、设备及介质

本发明公开了一种低功耗条件下的芯片自检方法、系统、设备及介质，所述低功耗条件下的芯片自检方法包括：实时获取芯片的运行功耗；当运行功耗低于预设阈值时，获取芯片的当前运行状态和芯片自检任务；基于芯片自检任务得到各子自检任务；基于当前运行状态和芯片自检任务进行当前芯片自检处理；在完成当前芯片自检处理后，获取新运行状态和剩余芯片自检任务，并基于新运行状态和剩余芯片自检任务继续进行芯片自检处理，直到完成所有子自检任务。由此本发明在运行功耗低于预设阈值时根据当前获取的运行状态和芯片自检任务进行芯片自检，能够在低功耗条件进行芯片自检，进而有效降低芯片自检的功耗。