基于改进YOLO v8网络的缺陷锡球检测方法

本发明公开了一种基于改进YOLO v8网络的缺陷锡球检测方法，方法包括：采集芯片BGA封装的灰度图像，组建用于缺陷锡球检测的训练数据集；构建改进YOLO v8网络，并通过训练数据集进行训练；对训练后的改进YOLO v8网络通过测试数据集进行测试，得到最终的改进YOLO v8网络；通过最终的改进YOLO v8网络对实测的芯片BGA图像进行缺陷锡球检测，得到检测结果，所述检索结果包括和缺陷锡球对应的检测框及测试指标。本发明通过改进YOLO v8网络，在头部网络中采用一对多检测头辅助一对一检测头的设计；改进网络损失函数的计算方式；在目标检测任务上表现更加出色，能够更准确地检测和定位目标物体。