一种芯片电源测试装置及方法

本发明提供了一种芯片电源测试方法，包括，在测试电路板上放多个并联电阻，测试电路板用于模拟芯片，多个并联电阻的阻值可变，所述测试电路板放置在散热结构上，设定初始电阻值，测量散热壳体、测试电路板、芯片供电电源的温度，并将测试的温度与特定散热环境下预设温度上限进行比对，基于比对结果对电阻值进行调整；通过调整所述测试电路板上电阻的阻值，用于检测在特定散热环境下，所述芯片供电电源的供电能力。本发明设置电阻电路的测试电路板模拟芯片，将测试电路板放置在特定的散热环境下，并根据温度检测结果的反馈，对电阻电路的电阻值进行改变，以模拟在实际工作环境中真实散热性能下的电源供电能力，同时不会对供电电源造成损伤。