一种提供霍尔芯片磁场测试环境的套件

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一种提供霍尔芯片磁场测试环境的套件
申请号:CN202422935329
申请日期:2024-11-29
公开号:CN223597751U
公开日期:2025-11-25
类型:实用新型专利
摘要
本实用新型提出了一种提供霍尔芯片磁场测试环境的套件,包括支架、磁体调节组件、永磁体和测试电路板。其中,测试电路板与霍尔芯片电连接,永磁体与磁体调节组件连接,其中,测试电路板上设有控制器,控制器与磁体调节组件电连接,通过控制器和磁体调节组件相互配合,进而改变永磁体与霍尔芯片之间的距离和永磁体的旋转角度,从而改变霍尔芯片周围的磁感应强度和磁场的相对角度,从而实现在芯片测试时对磁场环境的控制,精确的磁场控制减少测试过程中的误差和不确定性,从而提高测试效率,提升了测试的准确性和可靠性。
技术关键词
测试电路板 调节组件 永磁体 磁铁座 下盖板 芯片 套件 编码器 磁感应强度 控制器 顶丝 上盖板 电机 磁场环境 支架 轴承 支撑盘 腔体 凹槽
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