测试电路、测试方法、测试系统及存储介质

本发明涉及二极管测试技术领域，具体为一种测试电路、测试方法、测试系统及存储介质。所述测试电路至少包括座子1和座子2，所述座子1和所述座子2上分别均串联多个所述发光二极管；所述座子1和所述座子2的一端分别通过限流电阻(R2)及限流电阻(R4)连接至直流电源的正极，另一端分别与三极管(Q1)及三极管(Q2)的集电极连接，且所述另一端同时分别与电容(C1)及电容(C2)的一端连接。本发明通过优化电路结构和引入算法，提升了发光二极管性能测试的精度、效率和覆盖范围。