一种基于几何约束的深度学习条纹投影轮廓获取方法

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一种基于几何约束的深度学习条纹投影轮廓获取方法
申请号:CN202411552016
申请日期:2024-11-01
公开号:CN119444992A
公开日期:2025-02-14
类型:发明专利
摘要
本发明涉及测量技术领域,公开了一种基于几何约束的深度学习条纹投影轮廓获取方法,包括S1、生成测量系统对应的参考相位φr;S2、计算训练双卷积神经网络所需的数据集;S3、训练双卷积神经网络模型;S4、采用双卷积神经网络模型预测正弦部分M,余弦部分D,相位差Δφ以计算绝对相位φ,从而实现相位‑高度映射获得三维信息。本发明的有益效果在于:仅需投影与采集单个频率的条纹模式,即可对被测场景实现高精度的三维测量;能够有效运用在动态测量任务中以实现无运动伪影的高精度三维测量。
技术关键词
双卷积神经网络 轮廓获取方法 条纹投影 条纹模式 投影仪 包裹相位 梯度下降算法 频率 监控网络 估计算法 坐标 计算误差 工业相机 参数 数据 标签 像素 掩膜
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