一种配合部件、测试装置及测试方法

本申请公开了一种配合部件、测试装置及测试方法，配合部件包括：支撑部，所述支撑部顶部具有支撑面，所述支撑部底部能够插入测试基座的基板；弹性接触件，所述弹性接触件设置于所述支撑面且用于与芯片的测试部形成电接触，所述弹性接触件具有导电性；第一通道部，所述第一通道部包括第一连通段及第二连通段；所述第一连通段贯穿所述支撑部的顶部及其底部；所述弹性接触件具有所述第二连通段，所述第二连通段与所述第一连通段的一端连通。