用于液晶显示屏的坏点检测方法、系统、设备及存储介质

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用于液晶显示屏的坏点检测方法、系统、设备及存储介质
申请号:CN202411563580
申请日期:2024-11-04
公开号:CN119492522A
公开日期:2025-02-21
类型:发明专利
摘要
本申请涉及屏幕质量检测的技术领域,公开了一种用于液晶显示屏的坏点检测方法、系统、设备及存储介质,所述方法包括获取待测显示屏的像素分布信息,基于像素分布信息对各像素点标记对应的像素坐标;接收检测信号后,基于像素坐标将待测显示屏的像素点划分为若干像素块,对各像素块标记块标识;基于像素坐标和块标识,确定各像素点的块坐标,基于块坐标将各像素点划分至若干像素组中,对各像素组标记组标识;基于各像素组的组标识设置检测次序,基于检测次序逐一控制各像素组显示预设的检测图像组;逐一获取待测显示屏的显示效果图像并输入至预设的图像坏点识别模型,以生成坏点检测结果信息;本申请具有提高液晶显示屏的坏点检测效率的效果。
技术关键词
坏点检测方法 像素点 像素块 液晶显示屏 图像坏点 坐标 标识 图像识别算法 标记 项目 执行检测图像 分辨率 坏点检测系统 分析模块 色彩 偏差 可读存储介质
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