一种提高封装基板良率的封装方法

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一种提高封装基板良率的封装方法
申请号:CN202411576474
申请日期:2024-11-06
公开号:CN119407338A
公开日期:2025-02-11
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种提高封装基板良率的封装方法,包括如下步骤:S1,采用激光烧蚀的方法去除覆盖在基板的金手指表面的阻焊层;S2,对基板进行清洗,对清洗后的基板进行烘干;S3,对基板进行封装。本发明使用激光将金手指上覆盖的阻焊层烧蚀掉,使金手指暴露出来,提高了封装基板的良率。该方法不需要增大阻焊层开窗区域,不会导致裸露的铜皮面积增加,相对于现有方法可以在保证封装基板可靠性的前提下提高封装基板的良率。
技术关键词
封装基板 封装方法 激光烧蚀 金手指 激光打标机 水滴角测试仪 等离子清洗机 开窗区域 显微镜 芯片 尺寸 密度 功率 频率 速度
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