基于图像分析的铂铱显影环表面缺陷智能识别系统及方法

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基于图像分析的铂铱显影环表面缺陷智能识别系统及方法
申请号:CN202411580795
申请日期:2024-11-07
公开号:CN119090883B
公开日期:2025-01-24
类型:发明专利
摘要
本发明涉及图像分析的技术领域,公开了基于图像分析的铂铱显影环表面缺陷智能识别系统及方法。本发明首先获取铂铱显影环表面图像,提取疑似缺陷,对所述疑似缺陷进行中值滤波处理和聚类处理后,得到聚类中心,根据所述聚类中心将疑似缺陷进行合并成缺陷区域,得到缺陷提取的铂铱显影环表面图像;其次对缺陷提取的铂铱显影环表面图像进行形态学处理,使用8邻接像素点对缺陷标记;再使用核主成分分析算法提取缺陷特征参数,基于蜣螂优化算法优化核主成分分析算法的核参数得到主成分参数,最后使用主成分参数训练RBF神经网络,输出缺陷识别结果,实现对铂铱显影环表面缺陷的识别。
技术关键词
RBF神经网络 缺陷智能 核主成分分析算法 图像分析 神经网络分类器 像素点 矩阵 背景差分法 识别方法 图像缺陷识别 参数 标记 滤波 贡献率 斑点 凹坑 聚类算法
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