在有IC器件的硅片上制造纳米硅通孔的方法和封装结构

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在有IC器件的硅片上制造纳米硅通孔的方法和封装结构
申请号:CN202411584525
申请日期:2024-11-07
公开号:CN119400755A
公开日期:2025-02-07
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种在有IC器件的硅片上制造纳米硅通孔的方法和封装结构,涉及半导体技术领域,该方法包括:获取第一硅片,第一硅片的第一表面上通过执行IC工艺,设有IC器件,形成IC器件层;在IC器件层的表面制备金属pad;利用介质层材料在IC器件层上沉积生长介质层;在生长介质层中制备第一通孔,第一通孔位于金属pad上方,与金属pad的上表面连接;在生长介质层的表面上制备第一金属层;在第一硅片的第二表面上制备,穿过第一硅片、IC器件层的第二通孔,第二通孔的位于金属pad的下方,与金属pad的下表面连接;在第二表面上制备第二金属层,得到硅通孔结构。
技术关键词
硅片 纳米硅 硅通孔结构 金属材料 芯片封装结构 介质 层材料 氮化硅 氧化硅
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