PAT测试系统

本发明公开了一种PAT测试系统包括：主控板。主控板包括第一存储器模块，第一存储器模块具有第一容量。PAT测试文件的容量大于第一容量。第一存储器模块用于存储根据第一容量对PAT测试文件进行分割形成的子PAT测试文件。主控板分批次将PAT测试文件的各子PAT测试文件传输到第一存储器模块中。在第一存储器模块中存满对应的子PAT测试文件时，主控板还将所存储的子PAT测试文件读取到待测芯片实现对待测芯片的测试，各批次的子PAT测试文件都完成对待测试芯片的测试时完成PAT测试文件对待测试芯片的测试。本发明不需要采用大容量的PAT测试系统即可实现大容量的PAT测试，从而能降低成本。