晶圆的缺陷确定方法、装置、设备、介质及产品

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晶圆的缺陷确定方法、装置、设备、介质及产品
申请号:CN202411590402
申请日期:2024-11-08
公开号:CN119515833A
公开日期:2025-02-25
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种晶圆的缺陷确定方法、装置、设备、介质及产品,该方法包括:获取晶圆的噪声图像,噪声图像基于晶圆的缺陷图像和参考图像确定;基于噪声图像中的每个像素点的灰度值,对噪声图像进行区域划分得到多个目标区域,并基于每个目标区域生成对应的第一噪声图像;对每个第一噪声图像的噪声强度进行归一化处理,得到每个第一噪声图像对应的第二噪声图像;对多个第二噪声图像的灰度值进行叠加,得到检测图像,并基于检测图像,确定晶圆的缺陷,通过对噪声强度进行归一化处理能够减小噪声对缺陷确定的干扰,提升缺陷检测的效率和准确率。
技术关键词
噪声图像 噪声强度 计算机程序指令 灰度直方图 像素点 可读存储介质 对比度 计算机程序产品 处理器 模块 电子设备 图案 存储器 算法
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