一种芯片校验方法、校验装置和电子设备

本公开实施例提供了一种芯片校验方法、校验装置和电子设备，芯片校验方法包括：获取芯片内参数对应的修调码读出值和校验码理想值；修调码读出值是写入芯片内的修调码理想值经过芯片封装或/和上机后的读出值，校验码理想值是根据修调码理想值和预设函数确定的校验码函数值，或者是写入芯片内的校验码函数值在芯片经封装或/和上机后的读出值；根据修调码读出值和预设函数，确定校验码计算值；将校验码计算值与校验码理想值进行比较，并根据比较结果确定芯片校验通过或校验不通过。本公开实施例能够提高芯片校验的效率。