一种芝麻枯萎病的田间症状快速诊断方法

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一种芝麻枯萎病的田间症状快速诊断方法
申请号:CN202411598441
申请日期:2024-11-11
公开号:CN119595561A
公开日期:2025-03-11
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种芝麻枯萎病的田间症状快速诊断方法,涉及农业病害诊断技术领域,该方法包括以下具体步骤:S100,设备准备:准备高光谱成像设备,该设备能够覆盖可见光到近红外光谱范围;S200,田间数据采集:在芝麻田间,选择不同健康状态的芝麻植株作为样本,使用高光谱成像设备对每株芝麻进行扫描,本发明通过采用高光谱成像技术,能够自动、快速地获取芝麻植株在特定光谱范围内的光谱数据,并通过先进的数据处理和算法,精准地提取与枯萎病相关的光谱特征,从而实现对病害的准确诊断,不仅大大提高了诊断效率,减少了人工干预,还显著提升了诊断的精度,为及时采取防治措施提供了可靠依据。
技术关键词
田间症状快速诊断方法 高光谱成像设备 芝麻 田间数据采集 枯萎病植株 训练集数据 协方差矩阵 高光谱成像技术 算法 诊断系统 光谱特征提取 外部存储设备 数据处理软件 参数 特征值 样本
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