传感器性能测试方法、系统、装置及计算机设备

本申请涉及一种传感器性能测试方法、系统、装置及计算机设备。该方法包括：获取待测传感器的输出放大信号，基于输出放大信号，获取待测传感器的多个性能衡量指标，在各性能衡量指标满足预设的标准性能条件的情况下，确定待测传感器的性能测试结果为测试通过，其中，待测传感器被屏蔽盒所覆盖。采用上述方法在测试过程中，待测传感器被屏蔽盒所覆盖，这样能够隔离待测传感器所处外界环境中产生的电磁干扰，使得获取到的待测传感器的输出放大信号为无电磁的信号，提高了获取到的待测传感器的输出放大信号的精度，并且在高精度的输出放大信号的基础上，进一步可以提高传感器测试性能结果的准确性。