一种基于PBAT降解膜材料的缺陷特征识别方法及系统

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一种基于PBAT降解膜材料的缺陷特征识别方法及系统
申请号:CN202411603775
申请日期:2024-11-12
公开号:CN119131022B
公开日期:2025-01-28
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于PBAT降解膜材料的缺陷特征识别方法及系统,其中方法包括采集吹膜成型视频,得到各个降解膜灰度图像,基于每个降解膜灰度图像内每个像素点与图像整体的灰度差异特征获取膜面缺陷分析关键点,基于所有膜面缺陷分析关键点之间的纹理差异特征和聚集性特征获取各个膜面缺陷分析区域,构建缺陷形貌特征向量,基于各个膜面缺陷分析区域的周期性特征获取缺陷匹配帧序列,计算每个膜面缺陷分析区域的非偶因素缺陷指数,进而获取每个膜面缺陷分析区域的缺陷特征识别结果。本发明实施例提供的一种基于PBAT降解膜材料的缺陷特征识别方法及系统,提高了对PBAT降解膜材料表面缺陷特征识别的准确性。
技术关键词
缺陷分析 降解膜 特征识别方法 关键点 像素点 指数 重叠面积 图像 聚类算法 分布特征 灰度共生矩阵 间隔特征 序列 缺陷轮廓 特征识别系统 材料表面缺陷 模板匹配算法 因子 纹理特征
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