一种相控阵天线校准测试方法、系统及存储介质

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一种相控阵天线校准测试方法、系统及存储介质
申请号:CN202411610540
申请日期:2024-11-12
公开号:CN119519857A
公开日期:2025-02-25
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种相控阵天线校准测试方法、系统及存储介质,属于相控阵天线技术领域。相控阵天线校准时将上位机与波控、矢网通过特定协议和复杂流程的信息交互,转化为硬件电路的瞬时脉冲。波控盒内部包括Flash存储芯片、FPGA芯片,相控阵天线准备校准测试前,上位机先将校准指令集写入波控盒Flash中,矢网设置为外触发模式。校准过程中,不再由上位机给波控发送校准指令,波控盒解析后再下发,而是直接由波控盒发送校准指令并触发矢网,矢网采集数据并缓存。上位机在收到波控盒回送校准完成命令后通过矢网FIFO功能一次性读出缓存数据再进行分析显示。这种方法节省了校准时上位机到波控、矢网之间的通信开销,提高校准的速度和准确度,节约人力成本。
技术关键词
校准测试方法 校准测试系统 数据验证 Flash存储芯片 计算机可执行指令 相控阵天线技术 模块 FPGA芯片 频段 瞬时脉冲 可读存储介质 电压 通道 模式 命令
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