一种ADC板卡批量测试方法及系统

本发明涉及一种ADC板卡批量测试方法及系统，该方法包括：通过FPGA分别联通多路LPC总线；基于预设通讯协议，通过FPGA输出多个恒流源输出信号；多个待测ADC板卡分别对对应的恒流源输出信号进行采样，获得多个恒流源采样信号；分别计算恒流源输出信号及对应的恒流源采样信号的误差值，以完成多个待测ADC板卡的批量测试。本发明能够通过FPGA控制进行ADC板卡的自动循环测试，可以提高ADC采样板卡的测试效率，节约时间及成本。