多层堆叠存储芯片的封装方法及系统

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多层堆叠存储芯片的封装方法及系统
申请号:CN202411611481
申请日期:2024-11-12
公开号:CN119480650A
公开日期:2025-02-18
类型:发明专利
摘要
本发明涉及微电子封装技术领域,揭露了一种多层堆叠存储芯片的封装方法,包括:构建待封装存储芯片的3D封装结构布局;构建3D封装结构布局的物理场,将物理场和所述场作用关系集成至3D封装结构布局中,得到耦合3D封装结构布局;计算耦合3D封装结构布局的热点、高应力区以及高电场区,对耦合3D封装结构布局进行优化,得到目标封装结构布局;对待封装存储芯片进行多层堆叠,得到多层堆叠存储芯片;对多层堆叠存储芯片进行封装,得到封装多层堆叠存储芯片,利用预设的材料修复算法激活所述自修复材料的封装修复,得到封装修复材料,基于所述封装修复材料执行所述待封装存储芯片的多层堆叠封装。本发明可提高多层堆叠存储芯片的封装稳定性。
技术关键词
封装存储芯片 封装结构 布局 封装材料 封装方法 电场 重布线层 多层堆叠封装 修复算法 高应力 物理 热点 参数 微电子封装技术 结构组件 仿真数据 机械 电阻温度系数
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