一种确定试样的折射率分布的方法

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一种确定试样的折射率分布的方法
申请号:CN202411621870
申请日期:2024-11-14
公开号:CN119438138A
公开日期:2025-02-14
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种确定试样的折射率分布的方法,包括:从辐射源发出辐射束,该辐射束穿过实际试样,然后朝向辐射检测器行进,其中,实际试样包括M个实际试样区,辐射检测器包括N个传感元件,其中,M和N为大于1的整数;使用辐射检测器,基于实际试样和辐射束之间的相互作用,拍摄实际试样的实际图像;以及基于实际试样的实际图像,分别确定M个实际试样区的M个折射率值。
技术关键词
辐射检测器 图像 传感元件 人工神经网络 辐射源 切片 锥形 组织 数据
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