用于生成读取阈值电压的数据存储设备和方法

比特误码率(BER)估计扫描(BES)通常在扫描过程中使用静态读取阈值。这些固定阈值可能无法适应存储器单元特性的变化，从而导致BER估计和错误校正不理想。本文中所呈现的实施方案可用于通过提供BES与芯片上(例如，在控制器ASIC中)阈值电压(Vth)跟踪的混合变化来解决这个问题。在一个示例中，来自BES故障页面的BER结果被用于更新Vth跟踪参数。以此方式，可以使用BER结果来标识最不可靠的存储器页面，并且可以更新Vth跟踪参数以降低这些页面的BER。提供了其他示例。