一种芯片测试装置及测试方法

本发明涉及芯片检测技术领域，特别是涉及一种芯片测试装置及测试方法，其包括操作台、输送组件、控制箱、升降驱动件、旋转驱动组件、导向板以及传动组件。操作台上转动设置转盘，转盘上设置若干个放置槽，放置槽内设置托板。两组输送组件均设置在操作台上。控制箱连接检测探头，控制箱活动连接活动板，活动板连接导电母板。升降驱动件驱动活动板升降。旋转驱动组件驱动转盘旋转。导向板与活动板连接，导向板上对称设置两个滑座，滑座的底部设置吸盘，吸盘连通气泵。传动组件传动连接转盘和滑座，以在转盘旋转的状态下驱动两侧的滑座同步往复移动。本发明实现在更换芯片所在工位的同时实现自动上下料，各组动作协同，降低能耗，提高检测效率。