一种芯片分析方法、装置及可读存储介质

本发明提供了一种芯片分析方法、装置及可读存储介质，方法可以将多个待测芯片划分为若干个待测试分组，依次对各个待测试分组中的待测芯片进行测试并确定第一统计参数，还可以当待测试分组中的待测芯片均完成测试后，基于测试结果生成第二统计参数，从而在第一统计参数或第二统计参数满足对应预设条件时生成相应的优化建议报告并中止测试。本发明提出的方案可以适应不同数量和类型的芯片测试需求，通过分组测试保证了芯片分析具有较好的规律性和可靠性，能够及时发现测试问题并提升芯片的整体质量，并生成相应的优化建议报告，提供具体的改进方向，帮助工程师快速定位问题和制定解决方案，从而灵活调整后续测试策略。