一种基于微结构分析的材料寿命预测方法

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一种基于微结构分析的材料寿命预测方法
申请号:CN202411639664
申请日期:2024-11-18
公开号:CN119147563B
公开日期:2025-01-28
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于微结构分析的材料寿命预测方法,涉及材料物理性质测定和分析领域,包括:通过X射线照射待测材料,采集得到三维X射线衍射图谱;对三维X射线衍射图谱进行空间转换,得到三维微观结构图;通过多尺度神经网络分析三维微观结构图的纹理,得到晶粒平均尺寸估计量;通过微结构优化的应力疲劳寿命拟合函数,计算得到待测材料的寿命。本发明从微观结构出发,通过X射线衍射图的空间转换以及纹理识别,获取待测材料的微观晶粒平均尺寸,以此作为重要的微观参数,结合应力疲劳损伤的宏观参数,进行相比于传统技术更为准确的材料寿命预测。
技术关键词
材料寿命预测方法 纹理特征 图像卷积运算 晶粒平均尺寸 待测材料 微结构 多尺度神经网络 积层 图谱 因子 乘法器 空洞 应力 梯度下降算法 指数 运算误差
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