一种Dilithium快速侧信道攻击分析方法、电子设备及介质

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一种Dilithium快速侧信道攻击分析方法、电子设备及介质
申请号:CN202411647216
申请日期:2024-11-18
公开号:CN119652565B
公开日期:2025-07-29
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种Dilithium快速侧信道攻击分析方法,属于信息安全技术领域,采用高斯混合差值法检测泄漏,完成特征点的检测与选择;利用签名信息对私钥参与的实际泄漏进行分类,并利用分布上的差异来恢复正常域私钥。本发明解决了已有非模板类攻击小样本泄漏下时间开销大的问题。使用少量签名产生的侧信息泄漏,在高噪声水平下数分钟内即可恢复完整私钥。高斯混合差值法相较于已有泄漏检测方法,无需获取敏感中间值就可以完成特征点的检测与选择。本发明可用于检测该密码设备、密码芯片是否安全可靠,例如金融经济的银行卡、数字货币实体卡、移动通信的手机芯片等领域,以检测设备是否存在安全风险。
技术关键词
分析方法 私钥 高斯混合模型 密码设备 期望最大化算法 泄漏检测方法 存储器存储指令 侧信道分析 信息安全技术 密码芯片 可读存储介质 特征点 处理器 功耗 电子设备 曲线 样本 代表 银行卡
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