一种半导体抛光的反馈控制方法及系统

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一种半导体抛光的反馈控制方法及系统
申请号:CN202411658224
申请日期:2024-11-20
公开号:CN119772789A
公开日期:2025-04-08
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种半导体抛光的反馈控制方法及系统,涉及半导体抛光加工技术领域,该方法包括:构建智能反馈器,包括点阵演化单元、反馈决策单元与模糊分析单元;结合点阵演化单元确定目标校验点阵;基于协同控制方案进行抛光控制,同步执行基于目标校验点阵的传感监测,确定监测反馈数据;对监测反馈数据进行指标矩阵组的提取与模糊反馈决策,确定反馈控制策略;接收主观反馈指令,结合反馈控制策略执行反馈抛光调控。通过本申请可以解决由于监测数据处理量较大,无法实现针对性监测,导致监测反馈的时效性和准确性较差,造成半导体抛光质量较差的技术问题,可以提高半导体抛光监测的针对性和目的性,达到提高半导体抛光质量的技术效果。
技术关键词
反馈控制策略 设备组 半导体 反馈控制方法 分析单元 抛光机器人 推理知识库 决策 传感 指标 模糊推理 反馈策略 矩阵 多元组 监测数据处理 反馈控制系统 监测模块 辅助设备
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