半导体结构及半导体结构的制备方法

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半导体结构及半导体结构的制备方法
申请号:CN202411660342
申请日期:2024-11-20
公开号:CN119517863A
公开日期:2025-02-25
类型:发明专利
摘要
本发明实施例公开了一种半导体结构及半导体结构的制备方法。该半导体结构包括:衬底;衬底的表面包括芯片单元;第一氧化层;第一氧化层位于衬底的一侧;掺氧多晶硅层;掺氧多晶硅层位于第一氧化层远离衬底的一侧;掺氧多晶硅层在衬底的投影面积小于第一氧化层在衬底的投影面积;氮化硅层;氮化硅层位于掺氧多晶硅层远离衬底的一侧;氮化硅层覆盖掺氧多晶硅层;第二氧化层;第二氧化层位于氮化硅层远离衬底的一侧;第二氧化层覆盖氮化硅层。本发明实施例的技术方案,通过在掺氧多晶硅层远离衬底的一侧设置氮化硅层和第二氧化层,且氮化硅层覆盖掺氧多晶硅层,第二氧化层覆盖氮化硅层,避免掺氧多晶硅层失效,提高半导体结构的良率及可靠性。
技术关键词
半导体结构 氮化硅层 氧化层 多晶硅 衬底 金属结构 气相沉积工艺 绝缘体 芯片 PN结 二氯 氨气 硅烷 低压 电阻
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