成品测试方法、测量测试系统损耗的方法、设备、介质、产品

本申请涉及一种测量射频芯片成品测试中测试系统损耗的方法，包括：提供具有标准测试值的标准芯片；通过测试机向标准芯片输入射频信号；测量测试电路板的输出端以获得输出测试值；确定输出测试值与标准测试值的测试差值，并进行判断以确定系统输出损耗。本申请还涉及一种用于射频芯片的成品测试方法、设备、介质、产品。