一种基于有限元法的高热耗率SiC MOSFET功率器件热分析方法

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一种基于有限元法的高热耗率SiC MOSFET功率器件热分析方法
申请号:CN202411668792
申请日期:2024-11-21
公开号:CN119623169B
公开日期:2025-11-25
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种基于有限元法的高热耗率SiC MOSFET功率器件热分析方法,包括以下步骤:步骤1、载入材料信息,步骤2、三维建模,根据所述各个零部件的三维尺寸与布置位置进行建模,获得三维模型;步骤3、模型修正,将三维模型的棱角进行圆弧化处理和简化处理;基于简化模型划分计算网格;步骤4、设置,对简化模型的各部分的材料属性进行设置;设置所述简化模型的边界条件;步骤5、获取稳态温度,选择固体传热物理场模型,利用热传导方程的有限元数值方法求取待分析的高热耗率SiC MOSFET功率器件的稳态温度。本发明能更高效地计算出高热耗率的SiC MOSFET功率器件的工作稳态温度,所使用简化的SiC MOSFET模型可以在满足工程误差需求下,提高计算速度。
技术关键词
热分析方法 功率器件 热阻计算方法 热传导方程 热对流 三维模型 稳态 理论 功率芯片 薄层 散热器 误差 长方体 接触面 物理 热源 网格 分段 导热
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