一种存储检测电路、方法、电子设备及存储介质

本申请提供了一种存储检测电路、方法、电子设备及存储介质，该存储检测电路包括：第一阶段检测电路、第二阶段检测电路和异常处理电路；所述第一阶段检测电路，用于对处于第一阶段的片上系统存储单元进行检测，得到第一检测结果；并将所述第一检测结果发送给所述异常处理电路；所述第二阶段检测电路，用于对处于第二阶段的所述片上系统存储单元进行检测，得到第二检测结果；并将所述第二检测结果发送给所述异常处理电路；所述异常处理电路，用于对所述第一检测结果和所述第二检测结果进行处理，得到所述片上系统的处理结果。本申请通过两个阶段对片上系统的存储单元进行检测，提高了检测的全面性，保证了检测结果的准确性。