基于多源异构观测的辐射抗扰度故障诊断装置及方法

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基于多源异构观测的辐射抗扰度故障诊断装置及方法
申请号:CN202411673577
申请日期:2024-11-21
公开号:CN119881763B
公开日期:2025-11-04
类型:发明专利
摘要
本发明公开了基于多源异构观测的辐射抗扰度故障诊断装置及方法,涉及产品质量检测技术领域,装置包括:辐射干扰模块、能量采集模块、光谱处理模块、信号转换模块以及故障诊断模块;通过辐射干扰模块搭建干扰测试环境,能量采集模块采集待测设备的光学信息,对其进行耦合后通过光谱处理模块进行光谱分离,并进行目标中心波长合成,获取目标光强信息;通过信号转换模块进行信号转换,由故障诊断模块提取出多源异构光学特征进行故障识别并输出故障识别结果;克服了过度依赖主观判断导致待测设备抗干扰检测效率低、准确性差的问题,实现了对光学信息序列中故障诊断效率与准确性,进一步提高了辐射抗干扰检测效率、准确性与可靠性。
技术关键词
故障诊断装置 待测设备 能量采集模块 光强 异构 故障检测模型 光学特征信息 故障诊断模块 信号转换模块 长短期记忆神经网络 射频线缆 信号发生器 产品质量检测技术 自动编码器 生成装置 识别故障位置 耦合单元 光学耦合 序列 转换器
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